长江万润半导体参与编制的国家标准《NAND型闪存存储器寿命试验方法》正式发布

长江万润半导体参与编制的国家标准《NAND型闪存存储器寿命试验方法》正式发布

来源:中国日报网 2026-11-11 16:29
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近日,万润科技旗下长江万润半导体参与编制的国家标准《NAND型闪存存储器寿命试验方法》(GB/T 48295-2026)正式发布,并将于2027年5月1日起实施。

该标准由全国信息技术标准化技术委员会归口,办公机器、外围设备和耗材分会具体执行。NAND闪存作为固态存储系统的关键存储介质,其擦写耐久性和数据保持能力直接关系到存储产品的可靠性水平。当前行业内闪存寿命试验方案标准不一,结果存在差异,导致企业在产品研发过程中缺少统一的可靠性评价基准,产品选型、等级划分和质量验证结果难以横向比较,进而影响技术迭代效率及下游应用的适配安全。

长江万润半导体专注于半导体存储器赛道,重点布局消费级、工业级、企业级和车规级存储领域。标准制定过程中,公司存储器测试技术团队结合多年在特性分析、产品研发、量产测试和质量检测环节积累的实践经验,针对不同厂商存储单元工艺差异、多种闪存类型失效机理复杂等难点,开展多轮实验验证,形成适配性解决方案,参与标准研讨、测试方法验证和条款完善,将一线测试数据与工程经验转化为行业规范内容。此次参与标准制定,为行业提供了统一科学的检测规范,也体现了长江万润半导体在存储器测试与可靠性领域的技术积累。

未来,长江万润半导体将持续深耕技术领域,积极参与各级标准的制修订工作,推动标准在行业内落地应用,以标准化建设驱动技术创新,为存储产业向高质量发展提供有力支撑。

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【责任编辑:蔡东海】
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